产品中心

PRODUCT CENTER
您的位置:首页 > 产品中心 > 线对卡  >  测试卡  >  低对比度测试卡

低对比度测试卡

描述:低对比度测试卡
X射线是一种波长极短,能量很大的电磁波,X射线的波长比可见光的波长更短(约在0.001~100纳米,医学上应用的X射线波长约在0.001~0.1纳米之间),它的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。生产销售编号:20230204-07.
构成CT图像的像数不可能像X线照片的银粒那么细小而多,所以CT空间分辨率较普通的X线照片要小。是否可以简单的理解为空间分辨率就是多高的像素

  • 01/

    产品型号:
  • 02/

    厂商性质:生产厂家
  • 03/

    更新时间:2023-02-05
  • 04/

    访问量:364
相关文章

Articles

详细内容/ Product Details
产地国产


低对比度测试卡

X射线是一种波长极短,能量很大的电磁波,X射线的波长比可见光的波长更短(约在0.001~100纳米,医学上应用的X射线波长约在0.001~0.1纳米之间),它的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。生产销售编号:20230204-07.

构成CT图像的像数不可能像X线照片的银粒那么细小而多,所以CT空间分辨率较普通的X线照片要小。是否可以简单的理解为空间分辨率就是多高的像素 时间分辨率就是照相机连拍的时候的时间间隔对扫描影像而言,约需2.8个像元才能代表一个摄影影像上一个线对内相同的信息。空间分辨率是评价传感器性能和遥感信息的 重要指标之一,也是识别地物形状大小的重要依据。

图像中恰好能分开的细节之间的距离;通常用单位宽度范围内可识别的线对数表示,单位是每毫米线对数(LP/mm)。

调制传递函数

描绘输出信息量与输入信息量变化关系的响应函数,是成像系统对输入信息的传递和转换功能。主要反映的是影像信息的再现率。

分辨率测试线对卡,用于X射线机等X成像设备的分辨率测试,线对数量范围:0.6-5.0lp/mm。CT机射,X射线机工业用CRDR等的成像设备的影像分辨率测试质量控制检测用线分辨率测试线对卡。线对卡产品介绍分辨率范围:0.6-5.0lp/mm 铅当量:0.05pb mm 线对卡其他相关产品:度星卡二度星卡产品质量保证。更多产品详情欢迎咨询我们的技术和销售人员,我们将竭诚为您服务。低对比度测试卡




留言询价/ Message inquiry

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7